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半導體檢測X-RAY檢測設備_X-7900
半導體X-RAY檢測設備 X-7900可以檢測半導體3um的缺陷、一鍵測量汽包大小及空洞可應用于半導體集成電路、封裝元器件、電子連接器模組等，覆蓋IC、BGA、CSP、Flip chip等多種封裝類型檢測。半導體X-RAY檢測設備 X-7900可以檢測半導體3um的缺陷、一鍵測量汽包大小及空洞可應用于半導體集成電路、封裝元器件......
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PCB行業(yè)檢測設備
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通用型X-RAY設備
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壓鑄件檢測設備
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X-RAY設備配件
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